1、透射电镜STEM成像技术简介

材料的结构解析及缺陷、共生等结构细节表征是揭示材料构效关系和设计合成新型功能材料的必备要素。透射电子显微镜(TEM, Transmission electron microscope)在引入场发射电子源和球差校正器后，分辨率已达到50 pm ^[1-3]，可以观察绝大多数晶体的原子结构。

详情见：http://cpam.iccas.ac.cn/doclist.action?chnlid=3657