X射线吸收精细结构（X-ray Absorption Fine Structure，XAFS）谱学技术源自同步辐射光源的发展，凭借其对局域电子结构与原子近邻配位环境的高敏感性，已成为材料科学、化学、催化、能源等领域不可或缺的先进表征手段。传统XAFS测试依赖大型同步辐射装置，受限于机时紧张、实验周期长及样品环境复杂等瓶颈，难以满足常规科研的高频次、快速反馈需求。近十年来，随着微焦X射线源、高分辨率晶体分析器与硅漂移探测器（SDD）等关键技术的突破，国际国内台式XAFS仪器相继应运而生，实现了实验室级别下高信噪比、高能量分辨的XAFS测量，显著提升了科研的自主性与通量。

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