原位扫描电子显微镜（In-situ scanning electron microscope, In situ SEM）将高空间分辨率成像能力与原位环境调控技术相结合，能够在模拟实际工况或特定外界刺激下对材料进行观测。该技术突破了传统扫描电子显微镜只能进行“静态观测”的限制，实现了调控-表征一体化，可在微观结构演变与宏观性能响应之间建立直接关联，为揭示材料内在机理提供了动态研究手段。与传统SEM相比，In-situ SEM的核心优势在于：一方面可模拟温度、力学载荷、电场、化学气氛等工作环境；另一方面能够捕捉相变、裂纹萌生与扩展、晶粒生长、界面演化等微观结构的动态演变过程^[1-2]。

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