仪器1、场发射扫描电子显微镜（Hitachi S-4800）

仪器2、场发射扫描电子显微镜（Hitachi SU 8020）

 

 

 

 

固体材料表面微观形貌观察， EDS附件可进行定性半定量成分分析。

固体材料表面微观形貌观察， EDS附件可进行定性半定量成分分析。

仪器3、透射电子显微镜（JEOL JEM-1011）

仪器4、透射电子显微镜（Hitachi HT 7700）

 

 

 

 

 

样品内部结构观察，电子衍射可以分析晶体结构。

样品内部结构观察，适用于高分子、纳米材料。

仪器5、透射电子显微镜（JEOL JEM-2010）

仪器6、聚焦离子束电子束显微（ThermoFisher Scientific Helios Nanolab G3 CX）

 

 

 

 

 

样品内部结构观察，可实现高分辨观察。

扫描电镜实时观察下，实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。

仪器7、场发射透射电子显微镜（JEOL JEM-2100F）

仪器8、场发射透射电镜（JEOL JEM-F200）

 

 

 

 

 

样品内部结构观察，可实现高分辨观察，配置STEM、EDS附件，电子衍射可分析晶体结构。

扫描电镜实时观察下，实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。

仪器9、冷冻透射电镜（ThermoFisher Scientific Themis 300）

仪器10、场发射扫描电子显微镜（Hitachi Regulus 8230）

 

 

 

 

 

低温条件下进行三维电子衍射、三维电子断层成像及单颗粒重构等数据采集，经解析得到样品的三维微观结构。

固体材料表面微观形貌观察，尤其适用于低电压减速模式直接观察导电性差的样品，EDS附件可进行定性半定量成分分析。