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仪器(1)
单晶衍射仪MM007HF Saturn724+
生产厂家:日本理学(Rigaku)
购置时间:2008年

仪器介绍:

该仪器配备转靶X-射线发生器,Mo靶类型,测试功率1.2kW50kV X 24mA);入射光路配备Osmic公司VariMaxTM X-射线聚光镜,一方面单色化X-射线为Kalpha纯,另一方面增大了入射X-射线通量;测角仪为Chi轴固定类型(Chi=45°),拥有OmegaPhi2Theta轴和Dx(样品到检测器距离)4个自由度,扫描轴为Omega轴;检测器为Saturn724+ CCD类型2探测器,最小像素尺寸为34µm X 34µm,整个检测器尺寸为72mm X 72mm,像素整合模式有3种,分别为1X12X24X4该仪器配备有日本理学CGD-1型低温附件,常规测试样品温度保持在-100°C,测试环境为氮气气氛

仪器功能:

主要用于测试单晶样品,样品长宽高尺寸£0.3mm,通过对测试结果深入分析,可以得到构成物质的原子在空间的相对位置,从而为研究物质微观结构与宏观性质的关系提供重要的信息。

仪器(2)
单晶衍射仪RAPID IP
生产厂家:日本理学(Rigaku)
购置时间:2001年
仪器介绍:

该仪器配备转靶X-射线发生器,Cu靶类型,测试功率8kW40kV X 200mA);入射光路配备石墨单色器,将X-射线单色化为Kalpha纯;测角仪为1/4Chi轴类型,拥有OmegaPhiChi3个自由度,晶体到检测器的距离固定为127.4mm,扫描轴为Omega轴;检测器为IPImaging Plate类型2探测器,整个检测器尺寸为460mm X 256mm,像素整合模式有3种,分别为100µm X 100µm100µm X 150µm200µm X 200µm该仪器配备有日本理学CGD-1型低温附件,常规测试样品温度保持在-100°C,测试环境为氮气气氛

仪器功能:

主要用于测试单晶样品,样品长宽高尺寸³0.5mm,通过对测试结果深入分析,可以得到构成物质的原子在空间的相对位置,从而为研究物质微观结构与宏观性质的关系提供重要的信息,该仪器还可以测定只由CHNO等轻元素组成的手性纯有机化合物的绝对构型。

仪器(3)

单晶衍射仪ST Saturn 724+

生产厂家:日本理学(Rigaku)
购置时间:2008年

仪器介绍

        该仪器配有X-射线发生器功率3kW测角仪范围:phi  轴 -20 to +300degomega2theta ± 90deg2theta -5 to +110deg(camera length=35mm);CCD型测器,尺寸为70mm X 70mm, 像素尺寸:34X34mm68X68mm,137X137mm,相机长度25 to 115mm 配备有日本理学CGD-1型低温附件,常规测试样品温度保持在-100°C,测试环境为氮气气氛

仪器功能:

主要用于测试单晶样品,样品长宽高尺寸³0.3mm

通过对测试结果深入分析,可以得到构成物质的原子在空间的相对位置,从而为研究物质微观结构与宏观性质的关系提供重要的信息。

仪器(4)

多晶衍射仪D/max 2500

生产厂家:日本理学(Rigaku)
购置时间:2001年

仪器介绍:

该仪器配备转靶X-射线发生器,Cu靶类型,测试功率8kW40kV X 200mA);配备2套测角仪系统,称为左系统和右系统,2个系统呈镜面对称,并共享一个X-射线发生器,测角仪半径为185mm,每个系统均配备了入射光路、标准样品台、衍射光路和检测器;入射光路配备了发散光,由狭缝控制产生;标准样品台有Theta轴方向自由度;衍射光路配备防散射狭缝、接收狭缝和石墨单色器;检测器为闪烁计数器,最大计数率1Mcps,可以做2Theta轴方向扫描

仪器功能:

用于测试多晶样品,粉末样品用量约20mm X 15mm X 1mm,主要采用反射法测试,常规扫描方式为Theta/2Theta对称扫描,亦可做Theta扫描、2Theta扫描和步进扫描,最小起始角2Theta=1°得到的衍射图谱用于物相分析和晶粒大小估算等。

仪器(5)
多晶衍射仪Empyrean-1
生产厂家:荷兰帕纳科(PANalytical)
购置时间:2012年

仪器介绍:

该仪器配备固定靶X-射线发生器,Cu靶类型,测试功率1.6kW40kV X 40mA);入射光路配备3种光路,分别为发散光、平行光和聚焦光,其中发散光由狭缝控制产生,平行光和聚焦光均由X-射线反射镜产生,入射光路可以做Omega轴方向扫描;样品台配备有平板样品台和透射反射样品台,2种样品台在测试过程中均保持水平方向不动,平板样品台没有任何自由度,而透射反射样品台增加了样品自旋的自由度;衍射光路配备防散射狭缝和Ni单色器,以及平板准直器(用于入射光路为平行光);检测器为PIXcel3D检测器,属于半导体检测器,最小像素尺寸为55µm X 55µm,单个像素最大计数率100kcps,单道(55µm X 14mm)最大计数率25Mcps,整个检测器(14mm X 14mm)的最大计数率6Gcps,可以做2Theta轴方向扫描,亦可做静态照相,2Theta方向张角为3.3°(测角仪半径240mm

仪器功能:

1) 采用反射法测试多晶样品的衍射图谱,常规扫描方式为Theta/Theta对称扫描,亦可做Omega扫描和2Theta扫描,最小起始角2Theta=1°带基板样品要求剪切成 £ 10mm X 10mm,厚度£ 2mm

2) 采用透射法测试多晶样品的衍射图谱,扫描方式为2Theta扫描(Omega=0 °),或Theta/Theta对称扫描,最小起始角2Theta=1°(透射反射样品台),最小起始角2Theta=4°(平板样品台);

3) 带基板薄膜样品的反射率测试,如果能够测试出干涉条纹,则可以简单估算出薄膜的厚度(厚度测试范围10nm-100nm);

4) 小角散射测试2Theta-1°5°

仪器(6)
多晶衍射仪Empyrean-2
生产厂家:荷兰帕纳科(PANalytical)
购置时间:2012年

仪器介绍:

该仪器配备固定靶X-射线发生器,Cu靶类型,测试功率1.6kW40kV X 40mA);入射光路配备了发散光,由狭缝控制产生,入射光路可以做Omega轴方向扫描;样品台配备有平板样品台和Anton Paar公司HTK 1200N型高温样品台,2种样品台在测试过程中均保持水平方向不动,平板样品台没有任何自由度,而高温样品台增加了样品高度的自由度,高温样品台的温度范围25°C -1200°C,升温最大速率150°C/min,降温最大速率-50°C/min测试环境包括真空、空气和惰性气体;衍射光路配备防散射狭缝和Ni单色器;检测器为PIXcel1D检测器,属于半导体检测器,最小像素尺寸为55µm X 14mm,单个像素最大计数率25Mcps,整个检测器(14mm X 14mm)的最大计数率6Gcps可以做2Theta轴方向扫描,亦可做静态照相,2Theta方向张角为3.3°(测角仪半径240mm

仪器功能:

1) 采用反射法测试多晶样品的衍射图谱,常规扫描方式为Theta/Theta对称扫描,亦可做Omega扫描和2Theta扫描,最小起始角2Theta=1°

2) 原位变温测试,样品台材质为刚玉,待测样品需要提供TGA测试结果,粉末样品用量£Pi*(7.5mm)2*1mm带基板的样品要求剪切成 £ 10mm X 10mm,厚度£ 2mm

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