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仪器(1)

S-4300扫描电子显微镜

分辨率:1.5 nm @15kV,可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌分析,附件能谱EDS可对样品成分进行定性半定量分析(BU元素)

仪器(2)

S-4800扫描电子显微镜

分辨率:1 nm @15 kV,可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌分析,附件EDS可对样品成分进行定性半定量分析(BU元素)。

仪器(3)

JEM-1011透射电子显微镜

点分辨率:0.38 nm,可观察样品微观结构,电子衍射模式可进行晶体结构分析。

仪器(4)

JEM-2011透射电子显微镜

点分辨率:0.23 nm,可对样品进行高分辨观察,电子衍射模式可进行晶体结构分析,附件能谱EDS可进行定性半定量分析。

仪器(5)
JEM-2100F透射电子显微镜

点分辨率:0.19 nm,可对样品进行高分辨观察,,电子衍射模式可进行晶体结构分析,应用STEM附件可得到扫描透射明场像、暗场像,能谱EDS可进行定性半定量分析及元素线扫描、面扫描分布分析。

其他仪器

仪器(6) SCD-500磁控溅射仪

用于扫描电镜样品表面镀导电膜,常用靶材有PtAu等。

仪器(7) LEICA超薄切片机

用于高分子材料、纳米材料、生物医学材料等样品的透射电镜样品制备,也可用于AFM样品的制备以及软材料抛光等。

仪器(8) RSC-101多功能离子减薄仪

用于离子减薄方法制备透射电镜样品、样品表面离子溅射(Pt, Au, Cu, Ti)、样品表面离子束抛光。

仪器(9) EXTRON25等离子清洗仪

用于去除样品表面的有机小分子污染物,清洗扫描电镜样品仓,对透射电镜载网进行亲水处理。

仪器(10) ALLIED研磨抛光机

用于研磨抛光样品。

仪器(11) ALLIED慢速切割机

用于样品的精密切割。

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