仪器1、场发射扫描电子显微镜(Hitachi S-4800)
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仪器2、场发射扫描电子显微镜(Hitachi SU 8020)
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固体材料表面微观形貌观察, EDS附件可进行定性半定量成分分析。
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固体材料表面微观形貌观察, EDS附件可进行定性半定量成分分析。
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仪器3、透射电子显微镜(JEOL JEM-1011)
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仪器4、透射电子显微镜(Hitachi HT 7700)
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样品内部结构观察,电子衍射可以分析晶体结构。
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样品内部结构观察,适用于高分子、纳米材料。
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仪器5、透射电子显微镜(JEOL JEM-2010)
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仪器6、聚焦离子束电子束显微(ThermoFisher Scientific Helios Nanolab G3 CX)
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样品内部结构观察,可实现高分辨观察。
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扫描电镜实时观察下,实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。
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仪器7、场发射透射电子显微镜(JEOL JEM-2100F)
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仪器8、场发射透射电镜(JEOL JEM-F200)
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样品内部结构观察,可实现高分辨观察,配置STEM、EDS附件,电子衍射可分析晶体结构。
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扫描电镜实时观察下,实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。
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仪器9、冷冻透射电镜(ThermoFisher Scientific Themis 300)
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仪器10、场发射扫描电子显微镜(Hitachi Regulus 8230)
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低温条件下进行三维电子衍射、三维电子断层成像及单颗粒重构等数据采集,经解析得到样品的三维微观结构。
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固体材料表面微观形貌观察,尤其适用于低电压减速模式直接观察导电性差的样品,EDS附件可进行定性半定量成分分析。
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