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仪器1场发射扫描电子显微镜(Hitachi S-4800

仪器2场发射扫描电子显微镜(Hitachi SU 8020

 

 

 

 

固体材料表面微观形貌观察, EDS附件可进行定性半定量成分分析。

固体材料表面微观形貌观察, EDS附件可进行定性半定量成分分析。

仪器3、透射电子显微镜(JEOL JEM-1011

仪器4透射电子显微镜(Hitachi HT 7700

 

 

 

 

 

样品内部结构观察,电子衍射可以分析晶体结构。

样品内部结构观察,适用于高分子、纳米材料

仪器5透射电子显微镜(JEOL JEM-2010

仪器6聚焦离子束电子束显微(ThermoFisher Scientific Helios Nanolab G3 CX

 

 

 

 

 

样品内部结构观察,可实现高分辨观察。

扫描电镜实时观察下,实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。

仪器7场发射透射电子显微镜(JEOL JEM-2100F

仪器8场发射透射电镜(JEOL JEM-F200

 

 

 

 

 

样品内部结构观察,可实现高分辨观察,配置STEMEDS附件,电子衍射可分析晶体结构。

扫描电镜实时观察下,实现定点刻蚀与沉积、特定区域微/纳图案制备、定点制备TEM样品、三维重构成像。

仪器9冷冻透射电镜(ThermoFisher Scientific Themis 300

仪器10场发射扫描电子显微镜(Hitachi Regulus 8230

 

 

 

 

 

低温条件下进行三维电子衍射、三维电子断层成像及单颗粒重构等数据采集,经解析得到样品的三维微观结构。

固体材料表面微观形貌观察,尤其适用于低电压减速模式直接观察导电性差的样品,EDS附件可进行定性半定量成分分析。

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