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测试仪器
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仪器1:S-4300扫描电子显微镜

仪器:2:S-4800扫描电子显微镜

 

分辨率:1.5 nm(二次电子像,15kV);可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌分析,附件EDS能谱可对样品成分进行定性半定量分析(B~U元素);配备冷冻附件,对样品进行低温快速冷冻制样并在冷冻条件下进行观察,可实现液体、半液体如囊泡、凝胶等的表面微观形貌表征。

分辨率:1 nm(二次电子像,15 kV),1.4nm (1kV,减速模式);可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌分析,附件EDS能谱可对样品成分进行定性半定量分析(B~U元素)。

 

仪器3:SU-8020扫描电子显微镜

仪器4:JEM-1011透射电子显微镜

分辨率:1 nm(二次电子像,15 kV),1.3nm (1kV,减速模式);可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌分析;配置Top探头,可成电位衬度像;配置STEM探头,可实现透射模式与扫描模式同时成像;配置附件EDS可对样品成分进行定性半定量分析(B~U元素)。

加速电压:100kV;灯丝种类:钨灯丝;点分辨率:0.38 nm@100kV;可观察样品的内部结构,电子衍射模式可进行晶体结构分析;配置多样品杆,一次可进两个样品,进出样品速度较快,适用于高分子、纳米材料、生物样品的观察。

仪器5:HT-7700透射电子显微镜

仪器6:JEM-2011透射电子显微镜

加速电压:120kV;灯丝种类:钨灯丝;点分辨率:0.33 nm@120kV;加速电压在40kV到120kV之间可调,自动化程度高,操作相对简单,适用于高分子、纳米材料及生物样品的观察;采用相机取代荧光屏观察样品,无需在黑暗环境使用。

加速电压:200kV;灯丝种类:LaB6灯丝;点分辨率:0.23 nm@200kV;可对样品进行高分辨观察,电子衍射模式可进行晶体结构分析。

 

仪器7:JEM-2100F透射电子显微镜

仪器8:Helios NanoLab G3 CX

聚焦离子束-电子束双束电镜

 

加速电压:200kV;灯丝:热场发射;点分辨率:0.19 nm;可对样品进行高分辨观察,拍摄高分辨像(HRTEM),电子衍射模式可进行晶体结构分析,应用STEM附件可得到扫描透射明场像、暗场像,能谱EDS可进行定性半定量分析及元素线扫描、面扫描分析得到元素的分布信息。

分辨率:离子束:4.0nm @ 30kV;电子束:0.8nm@15kV;可实现在扫描电镜实时观察下定点刻蚀与沉积;进行特定区域微/纳图案的制备(如沉积微电极等);定点制备TEM样品;三维成像得到样品的三维微观结构。

 

仪器9:Ultracut超薄切片机

仪器10:LEICA EM SCD-500磁控溅射仪

用于高分子材料、纳米材料、生物材料等样品的透射电镜样品制备,也可用于AFM样品的制备以及软材料抛光等。

用于扫描电镜样品表面镀导电膜,常用靶材有Pt,Au等。

 

仪器11:LEICA EM ACE-600磁控溅射仪

仪器12:LEICA EM GP 投入式快速冷冻制样仪

&透射电镜冷冻传输样品杆

用于扫描电镜样品表面镀导电膜,常用靶材有Pt,Au,C等。配置冷冻附件,可进行冷冻断裂、升华等,与其他冷冻附件配合实现冷冻扫描电镜观察液相样品的功能。

通过对样品进行快速冷冻制样并在冷冻条件下进行透射电镜观察,可实现对囊泡、胶束等样品在液相中的结构表征。

仪器13:PDC-32C-2等离子清洗仪

仪器14:Tech cat研磨抛光机

等离子体清洗对金属、半导体、氧化物和大多数高分子材料,如聚丙烯、聚脂、聚酰亚胺、聚氯乙烷、环氧等都能够进行表面处理,主要应用于扫描电镜、透射电镜样品的表面清洁处理及透射电镜载网膜的表面亲水化处理。

用于各类样品的研磨抛光,配置不同粗糙度的砂纸、抛光布,用于对扫描、透射样品的前期处理。

 

仪器15:M-POOP3慢速切割机

 

 

配置金刚石刀片,用于精密切割各种样品,例如高分子、陶瓷、金属等。

 

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