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测试仪器
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仪器1:ESCALab250Xi 多功能X射线光电子能谱仪

仪器2:ESCALab220i-XL型X射线光电子能谱仪

仪器3:Niton XL3t 980

能量色散型X射线荧光分析仪

可进行SAXPS(小面积XPS)分析,分析面积在20至900微米范围内可调;深度剖析(包括变角XPS和Ar+离子刻蚀);UPS(紫外光电子能谱),实现导电样品能级结构分析以及材料逸出功测量;半原位XPS/UPS测试、低温XPS测试(极限温度可达-145K)以及高分辨XPS元素及化学态成像。主要应用于纳米材料、催化化工、半导体、微电子、薄膜、太阳能、高分子聚合物、陶瓷、钢铁、金属、生物及能源材料等领域。

220i-XL能谱仪可进行双阳极Mg靶或Al靶的XPS分析;变角XPS(<10nm的深度剖析)。主要应用于纳米材料、催化化工、半导体、微电子、薄膜、太阳能、高分子聚合物、陶瓷、钢铁、金属、生物及能源材料等领域。

 

Niton XL3t X射线荧光分析仪可进行非真空条件下固体材料中杂质/痕量金属元素的定性与半定量分析(分析范围Mg~U间,检测限为ppm级)。主要用于合金、矿物、土壤、文物、电子器件、镀层、航空航天及环境分析等。

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