设为首页
|
加入收藏
首页
中心简介
测试服务
仪器预约说明
培训信息
分析方法及应用
文档下载
联系我们
《分析测试中心通讯》
《分析测试中心简册》
按期数分类
第17期 2024-02-06
第16期 2023-02-27
第15期 2022-01-29
第14期 2021-02-02
第13期 2020-02-24
第12期 2019-01-30
第11期 2018-02-01
按专题分类
核磁
光谱
电镜
质谱
元素分析
X射线衍射
光电子能谱
生物电镜组
仪器维护研发岗
第4期 2012-04-24
当前位置:
首页
>
分析方法及应用
>
按期数分类
>
第4期 2012-04-24
>
低温透射电镜技术的应用
红外光谱数据处理——导数光谱
扫描电镜低加速电压及减速模式的应用
浓度对氢谱的影响
B-N-Si类样品的测试
金属玻璃力学性能与结构关系的固体核磁研究
单晶结构解析中位置占据无序的分析方法
Autodeblur 图像处理软件的应用
PEG修饰蛋白药物的ESI Q-TOF质谱分析方法
用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度
版权所有 © 中国科学院化学研究所分析测试中心
地址:北京市海淀区中关村北一街2号 邮编:100190