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《分析测试中心通讯》
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第4期 2012-04-24

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低温透射电镜技术的应用
红外光谱数据处理——导数光谱
扫描电镜低加速电压及减速模式的应用
浓度对氢谱的影响
B-N-Si类样品的测试
金属玻璃力学性能与结构关系的固体核磁研究
单晶结构解析中位置占据无序的分析方法
Autodeblur 图像处理软件的应用
PEG修饰蛋白药物的ESI Q-TOF质谱分析方法
用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度
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