设为首页
|
加入收藏
首页
中心简介
测试服务
仪器预约说明
培训信息
分析方法及应用
文档下载
联系我们
《分析测试中心通讯》
《分析测试中心简册》
按期数分类
第17期 2024-02-06
第16期 2023-02-27
第15期 2022-01-29
第14期 2021-02-02
第13期 2020-02-24
第12期 2019-01-30
第11期 2018-02-01
按专题分类
核磁
光谱
电镜
质谱
元素分析
X射线衍射
光电子能谱
生物电镜组
仪器维护研发岗
光电子能谱
当前位置:
首页
>
分析方法及应用
>
按专题分类
>
光电子能谱
>
气体团簇刻蚀在有机及无机材料深度剖析中的应用
X射线光电子能谱(XPS)与拉曼光谱联用技术介绍
一种新型XPS空气敏感样品正负压一体转移装置的研制
用XPS和UPS方法测量导电固体材料逸出功的方法研究
硬X射线光电子能谱(HAXPES)技术与应用
XPS冷冻样品转移装置的研制与应用
一种新型普适半原位 XPS 样品转移装置的研制与应用
紫外光电子能谱(UPS)应用
半原位 XPS 样品转移装置的研制
MAGCIS团簇离子枪简介及应用实例
版权所有 © 中国科学院化学研究所分析测试中心
地址:北京市海淀区中关村北一街2号 邮编:100190