传统X射线光电子能谱（XPS）方法必须在超高真空环境下对无挥发的固体材料进行表面化学分析，其测试条件与研究体系的真实环境及表面状态存在差距，这对于诸如催化材料的原位研究会有较大影响。相比于传统XPS技术，近常压X射线光电子能谱（NAP-XPS）技术突破了从超高真空到近常压的“压力鸿沟”，可以在近常压的条件下于不同反应气氛中进行光电子能谱测试，还打破了真实研究体系的限制，将XPS技术延伸应用至液态环境、气体环境以及很多常见环境下的生物和材料样品检测，是原位研究催化、能源、环境、生物等领域的有力手段。结合了近常压扫描隧道显微镜与光发射电子显微镜（NAP-STM/PEEM）技术，甚至可以在分子尺度上研究表面催化、薄膜生长等。

为促进化学所在表面化学物理、环境、催化、电池等研究领域相关科研人员与技术人员的交流，更好地为我所的科研工作服务，分析测试中心电子能谱组将于2019年10月16日上午8:30在5号楼100会议室举办“近常压XPS/STM/PEEM技术在材料原位表征方面的应用交流研讨会”。本次研讨会将邀请国内相关应用领域的专家以及德国SPECS公司的应用技术专家就近常压原位表征技术及应用等方面进行交流与讨论，欢迎老师和同学们关注参会！

会议时间：2019年10月16日（周三）上午8:30，

会议地点：中国科学院化学研究所5号楼100会议室，

联系人：赵老师，章老师，联系方式，62553516。