首页 中心简介 测试服务 仪器预约说明 培训信息 分析方法及应用 文档下载 联系我们
《分析测试中心通讯》 《分析测试中心简册》
按期数分类
按专题分类
  详细内容 当前位置: 首页 > >  
MAGCIS团簇离子枪简介及应用实例
发布时间:2015-04-22 00:00:00.0  |  【打印】 【关闭

深度剖析作为XPS应用中的一项重要技术在不同研究领域有着越来越多的应用需求,如研究各种材料的镀层,有机/无机材料的界面,检测生物器件上等离子沉积镀层以及研究OLED和太阳能电池等。目前,化学所分析测试中心的XPS仪器配备的都是传统的单原子离子源,即使用Ar+作为溅射粒子,一直以来都用作层状材料的深度剖析,分析不同深度范围内元素及化学态的变化。然而,单原子离子源在对有机材料和聚合物材料进行溅射时存在很大的缺陷,很容易造成材料分子结构的破坏,或者引起表面元素化学态的变化,这些都会影响XPS数据的解析,甚至可能出现误分析。

 

相关内容见:http://cpam.iccas.ac.cn/Downing/2015422113123754.pdf

附件下载:


版权所有 © 中国科学院化学研究所分析测试中心
地址:北京市海淀区中关村北一街2号 邮编:100190