在透射电镜中，电子束穿透晶体样品后，携带了样品的结构信息，再经过物镜聚焦，在物镜后焦面上形成衍射花样，由于透射束与衍射束相互干涉，最终在物镜像平面形成的相位衬度显微图像，即高分辨电子显微像。高分辨像也称为晶格像，能够直观地给出晶面的排列信息，在晶体材料研究中具有非常重要的作用。

在分析高分辨像时，最重要的一个工作是尽可能准确地测量晶面间距，一般可采用直接依据标尺测量多个晶面间距再平均的方法，但是由于晶面间距较小（通常在0.1-2nm），这种测量方法误差较大，尤其是有机晶体的高分辨像往往没有较清晰的面积比较大的区域，直接测量的误差就更大。利用高分辨像的快速傅立叶变换（FFT）谱图对晶面间距进行测量可大大提高准确性，很多软件都可以对图像进行快速傅立叶变换，透射电镜的CCD相机软件都具有FFT的功能，下面介绍利用电镜室的透射电镜所配的CCD软件i-TEM进行高分辨晶面间距测量的方法：

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