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用XPS和UPS方法测量导电固体材料逸出功的方法研究
发布时间:2020-02-24 09:48:00.0  |  【打印】 【关闭

1.    背景介绍:
逸出功Ф(见图1)是表征固体材料表面电子特性的一个最基本物理量,体现电子的传输能力,其大小与表面状态的变化以及材料的物理化学性质密切相关。在现代半导体技术及有机太阳能电池研究领域,逸出功的准确测量对深入理解材料表面/界面现象,如生长吸附,表面分离与晶界形成,电子传输及氧化还原能力等具有重要意义。
 

http://cpam.iccas.ac.cn/doclist.action?chnlid=3653

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