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电子能量损失谱分析方法
发布时间:2021-02-03 14:36:00.0  |  【打印】 【关闭

电子显微镜是以高速入射电子作为光源,通过电子束与物质的相互作用产生不同的信号,常见的电子与样品相互作用产生的信号如图1所示,收集和分析这些信号可以获得样品结构特征和化学成分信息。入射电子束与样品中的原子核及核外电子相互作用,导致入射电子的方向和能量发生改变,这种现象称为电子散射。根据散射过程中电子能量是否发生改变,可以将散射分为弹性散射和非弹性散射。若电子束与样品发生作用后,只有方向改变而无能量损失,这种散射称为弹性散射,弹性散射是电子衍射和电子衍射成像的基础[1, 2]。若电子束与样品发生作用后,电子的方向和能量都发生了改变,这种散射称为非弹性散射。电子在非弹性散射过程中失去的能量被转化为光、热、X-射线、二次电子等,电子的非弹性散射是X射线能谱分析(EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)和电子能量损失谱(EELS: Electron Energy-loss Spectroscopy)的基础[2]

 

详情见http://cpam.iccas.ac.cn/doclist.action?chnlid=3657

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