首页 中心简介 测试服务 仪器预约说明 培训信息 分析方法及应用 文档下载 联系我们
《分析测试中心通讯》 《分析测试中心简册》
按期数分类
按专题分类
  详细内容 当前位置: 首页 > >  
低温XRD测试台功能介绍
发布时间:2021-02-04 09:35:00.0  |  【打印】 【关闭

原位低温XRD技术是研究样品相转变的重要实验方法之一。通过实时监测样品在不同温度条件下的结晶情况,分析其衍射图谱可以得到不同温度条件下的半峰宽、强度、晶面间距以及晶粒尺寸等信息,从而研究样品的相变、结晶度变化规律。

 

详情见http://cpam.iccas.ac.cn/doclist.action?chnlid=3656

附件下载:


版权所有 © 中国科学院化学研究所分析测试中心
地址:北京市海淀区中关村北一街2号 邮编:100190