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仪器1:P1多晶X-射线衍射仪

仪器2:P2多晶X-射线衍射仪

仪器(4)

仪器(5)

主要用于材料的常规XRD测试,将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱,从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2001年,型号为日本理学D/max 2500,光源为铜转靶类型,检测器为闪烁计数器,左右双测角仪,可同时测试两个样品,扫描方式一般为q/2q联动类型。

主要用于材料的常规XRD测试,将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱,从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2012年,型号为荷兰帕纳科Empyrean,光源为铜固定靶类型,检测器为阵列探测器(常用于1D线探测模式),扫描方式一般为q/q联动类型,一次只能测试一个样品。除常规测试外,还可以进行透射、掠角面外测试、以及空气敏感样品XRD测试(测试环境为真空或氮气)。

仪器3:P3多晶X-射线衍射仪

仪器4:单晶-2 X-射线衍射仪

仪器(6)

仪器(3)

主要用于材料的常规XRD测试,将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱,从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2012年,型号为荷兰帕纳科Empyrean,光源为铜固定靶类型,检测器为1D线探测器,扫描方式一般为q/q联动类型,一次只能测试一个样品。除常规测试外,还可以进行透射及变温XRD测试(测试环境为真空或氮气,温度范围从室温到1100摄氏度)。

主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下,温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体,长宽高一般200-800mm。仪器购置于2008年,型号为日本理学ST-Saturn724+,光源为钼常规固定靶,检测器为CCD 2D面探,测角仪为固定c类型。

仪器5:单晶-3 X-射线衍射仪

仪器6:单晶-4 X-射线衍射仪

仪器(1)

主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下,温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体,长宽高一般50-200mm。仪器购置于2008年,型号为日本理学MM007HF,光源为钼微焦斑转靶,检测器为Hybrid-CMOS 2D面探,测角仪为固定c类型。

主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下,温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体,长宽高一般50-200mm。仪器购置于2018年,型号为日本理学Synergy-R,光源为铜微焦斑转靶,检测器为Hybrid-CMOS 2D面探,测角仪为固定c类型。

 

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