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主要用于材料的常规XRD测试，将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱，从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2001年，型号为日本理学D/max 2500，光源为铜转靶类型，检测器为闪烁计数器，左右双测角仪，可同时测试两个样品，扫描方式一般为theta/2theta联动类型。
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主要用于材料的常规XRD测试，将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱，从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2012年，型号为荷兰帕纳科Empyrean，光源为铜固定靶类型，检测器为阵列探测器（常用于1D线探测模式），扫描方式一般为theta/theta联动类型，一次只能测试一个样品。除常规测试外，还可以进行透射、掠角面外测试、以及空气敏感样品XRD测试（测试环境为真空或氮气）。
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主要用于材料的常规XRD测试，将所得的图谱比对于数据库中的标准图谱，从而判定可能的物相。样品为粉末、块体、薄膜和纤维等多晶类型。仪器购置于2012年，型号为荷兰帕纳科Empyrean，光源为铜固定靶类型，检测器为1D线探测器，扫描方式一般为theta/theta联动类型，一次只能测试一个样品。除常规测试外，还可以进行透射及变温XRD测试（测试环境为真空或氮气，温度范围从室温到1100摄氏度）。
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主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下，温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体，长宽高一般200-800微米。仪器购置于2008年，型号为日本理学ST-Saturn724+，光源为钼常规固定靶，检测器为CCD 2D面探，测角仪为固定chi类型。
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主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下，温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体，长宽高一般50-200微米。仪器购置于2008年，型号为日本理学MM007HF，光源为钼微焦斑转靶，检测器为Hybrid-CMOS 2D面探，测角仪为固定chi类型。
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主要用于单晶样品的数据采集和结构解析。测试样品一般处于低温下，温度范围一般从室温到110 K。样品要求为单晶体，长宽高一般50-200微米。仪器购置于2018年，型号为日本理学Synergy-R，光源为铜微焦斑转靶，检测器为Hybrid-CMOS 2D面探，测角仪为固定kappa类型。
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