各位老师和同学：

聚焦离子束/电子束双束电镜（FIB-SEM，Nanolab G3 CX）现已调试完毕，面对所内外开放使用，即日起可接收样品测试。现将有关事项通知如下：

1. 仪器功能简介：可实现在扫描电镜实时观察下定点刻蚀与沉积，从而能够进行特定区域微/纳图案的制备(如沉积微电极等)、定点制备TEM样品以及三维成像得到样品的三维微观结构。应用实例请见附件。

2. 样品测试方式：双束电镜的使用由仪器管理员完成，拟测试的同学请填写申请表，交至分析测试中心电镜室(3号楼0114)。

若有任何问题，请联系电镜室（电话：62588935），感谢您对我们工作的理解和支持 。

附件：1、应用实例  2、测试申请表             

                                                                          分析测试中心                                               

   2016-9-26